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绝缘体上硅及其键合方法技术
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下载绝缘体上硅及其键合方法的技术资料
文档序号:40712890
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本发明提供了一种绝缘体上硅及其键合方法,通过采用等离子工艺处理第一半导体晶圆的氧化层表面以及第二半导体晶圆的待键合表面形成粗糙表面并进行清洗,从而能够使第一半导体晶圆的氧化层表面以及第二半导体晶圆的待键合表面形成分布有更多羟基的亲水表面,然...
该专利属于上海新傲科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海新傲科技股份有限公司授权不得商用。
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