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公开了一种芯片测试方法、测试电路及测试系统，涉及集成电路测试技术领域，该方法包括获取用于测试待测芯片的测试指令；基于测试指令，确定测试模式；测试模式包括系统级测试模式和老化测试模式；基于测试模式和测试指令对车载芯片进行系统级测试和老化测试。...
该专利属于北京地平线信息技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京地平线信息技术有限公司授权不得商用。

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