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本技术提供一种半导体老化冷热测试装置，涉及半导体测试技术领域，包括：测试机构，所述测试机构包括底板，所述底板的一侧设置有固定架，所述固定架的一侧设置有底台，所述底台的外表面设置有轴珠，所述轴珠的外表面设置有调节台，所述调节台上设置有放置组，...
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