一种半导体老化冷热测试装置制造方法及图纸

本技术提供一种半导体老化冷热测试装置，涉及半导体测试技术领域，包括：测试机构，所述测试机构包括底板，所述底板的一侧设置有固定架，所述固定架的一侧设置有底台，所述底台的外表面设置有轴珠，所述轴珠的外表面设置有调节台，所述调节台上设置有放置组，所述固定架上设置有控制机构，所述控制机构包括手拧螺杆。本技术，通过对器件在高低温环境下的老化和性能稳定性测试，可以保证产品的质量和可靠性，提高其使用寿命和性能。同时，测试程序的自动化程度使测试结果更加准确和可靠，避免了由人为因素带来的误差。此外，本测试装置的快速反应和高效率可大大提高工作效率，缩短测试周期，为企业减少了成本和时间。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及半导体测试，尤其涉及一种半导体老化冷热测试装置。

技术介绍

1、现有的半导体老化冷热测试装置在对半导体进行老化状态测试时，通常需要较为漫长的测试时间，这主要是由于传统测试方法需要人工慢慢地调整温度、电压等参数，而且测试过程中还会受到各种外界因素的影响，从而导致测试结果的准确性无法得到有效保障，从而使得测试装置在实际使用过程中的实用性有所降低。因此我们提供一种半导体老化冷热测试装置。

技术实现思路

1、本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，传统的人工测试方式在实际使用过程中容易因诸多因素导致测试结果不理想，提供一种半导体老化冷热测试装置。

2、为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：一种半导体老化冷热测试装置，包括：测试机构，所述测试机构包括底板，所述底板的一侧设置有固定架，所述固定架的一侧设置有底台，所述底台的外表面设置有轴珠，所述轴珠的外表面设置有调节台，所述调节台上设置有放置组，所述固定架上设置有控制机构，所述控制机构包括手拧螺杆，所述手拧螺杆两端的外表面设置有轴承组，所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种半导体老化冷热测试装置，其特征在于，包括：测试机构(1)，所述测试机构(1)包括底板(11)，所述底板(11)的一侧设置有固定架(12)，所述固定架(12)的一侧设置有底台(13)，所述底台(13)的外表面设置有轴珠(16)，所述轴珠(16)的外表面设置有调节台(14)，所述调节台(14)上设置有放置组(15)，所述固定架(12)上设置有控制机构(2)，所述控制机构(2)包括手拧螺杆(21)，所述手拧螺杆(21)两端的外表面设置有轴承组(22)，所述手拧螺杆(21)上设置有调节伸缩杆(23)，所述调节伸缩杆(23)的一端设置有测试器(24)。

2.根据权利要求1所述的...

【技术特征摘要】

1.一种半导体老化冷热测试装置，其特征在于，包括：测试机构(1)，所述测试机构(1)包括底板(11)，所述底板(11)的一侧设置有固定架(12)，所述固定架(12)的一侧设置有底台(13)，所述底台(13)的外表面设置有轴珠(16)，所述轴珠(16)的外表面设置有调节台(14)，所述调节台(14)上设置有放置组(15)，所述固定架(12)上设置有控制机构(2)，所述控制机构(2)包括手拧螺杆(21)，所述手拧螺杆(21)两端的外表面设置有轴承组(22)，所述手拧螺杆(21)上设置有调节伸缩杆(23)，所述调节伸缩杆(23)的一端设置有测试器(24)。

2.根据权利要求1所述的一种半导体老化冷热测试装置，其特征在于：所述固定架(12)的一端固定连接在底板(11)的一侧，所述底台(13)的一端固定连接在底板(11)的一侧。

3.根据权利要求2所述的一种半导体老化冷热测试装置，其特征在于：所述轴珠(16)的内表面固定连接在底...

【专利技术属性】
技术研发人员：汪金文，汪明炉，王锦，
申请(专利权)人：果果仪器科技上海有限公司，
类型：新型
国别省市：