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本申请涉及一种光模块的测试方法、装置、计算机设备及存储介质。光模块的测试方法包括：基板管理控制器获取目标温度以及测试环境的当前温度；其中，目标温度包括光模块的规格参数中未体现的温度；形成与目标温度以及当前温度二者相关联的反馈参数，利用反馈参...
该专利属于苏州元脑智能科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州元脑智能科技有限公司授权不得商用。

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