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基于深度学习与曲面拟合算法的两级亚像素位移测量方法技术
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下载基于深度学习与曲面拟合算法的两级亚像素位移测量方法的技术资料
文档序号:40670914
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本发明涉及数字图像相关技术领域,提供了一种基于深度学习与曲面拟合算法的两级亚像素位移测量方法,包括:准备预定数量的与待测量图片相类似的图片作为训练集;使用训练集对深度学习模型Real‑ESRGAN进行训练;准备与训练集的数量成预定比例的测试...
该专利属于长春工业大学所有,仅供学习研究参考,未经过长春工业大学授权不得商用。
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