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本发明公开了一种芯片测试recipe管理方法、系统、存储介质及设备，涉及半导体集成电路技术领域，该方法包括：根据LED芯片测试的电参数和光参数，在芯片测试机上建立若干recipe；对所有的LED芯片进行分类；基于电参数和光参数，将同一类别的...
该专利属于江西兆驰半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江西兆驰半导体有限公司授权不得商用。

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