一种芯片测试recipe管理方法、系统、存储介质及设备技术方案

本发明专利技术公开了一种芯片测试recipe管理方法、系统、存储介质及设备，涉及半导体集成电路技术领域，该方法包括：根据LED芯片测试的电参数和光参数，在芯片测试机上建立若干recipe；对所有的LED芯片进行分类；基于电参数和光参数，将同一类别的LED芯片的不同recipe进行关联，得到不同recipe的关联系数以及不同recipe的基准数据；将LED校正芯片进行对应recipe测试，得到LED校正芯片的测试数据；基于测试数据与基准数据的差异，对对应recipe进行修正；基于差异和同一类别的不同recipe的关联系数，得到不同recipe的补偿系数，以对其他recipe进行修正补偿，从而得到同一类别的LED芯片的不同recipe校正，本发明专利技术能够解决现有技术中程序recipe文件数量太多，校正recipe时间长，效率低并且易出错的技术问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及半导体集成电路，具体涉及一种芯片测试recipe管理方法、系统、存储介质及设备。

技术介绍

1、recipe(制程方法)是指工业自动化制造过程中的工艺制程，recipe中可以包括以下信息：物料加工过程中的多个步骤、每个步骤中各种工艺参数的数值、以及各步骤的结束条件等等。

2、随着led产品市场逐步增长，制造业体量逐步增长，芯片测试是必不可少的工序，芯片测试机台需每日校正不同型号产品recipe，校正确认无误差后才可放行生产作业。

3、但是，随着市场日益增长，产品型号不断增加，机台运行的程序recipe文件数量太多，因此，所需校正的recipe的数量也在增加，每一个型号的recipe都需每日校正，导致芯片测试机校正频繁，容易出现校正错误，导致校正的recipe异常，测试led产品的数据异常，影响led产品的良率。

技术实现思路

1、针对现有技术的不足，本专利技术的目的在于提供一种芯片测试recipe管理方法、系统、存储介质及设备，旨在解决现有技术中程序recipe文件数量太本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种芯片测试recipe管理方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的芯片测试recipe管理方法，其特征在于，将所有的LED芯片进行预处理，以对所有的LED芯片进行分类的步骤，具体包括：

3.根据权利要求1所述的芯片测试recipe管理方法，其特征在于，基于所述电参数和所述光参数，将同一类别的LED芯片的不同recipe进行关联，得到不同recipe的关联系数以及不同recipe的基准数据的步骤包括：

4.根据权利要求1所述的芯片测试recipe管理方法，其特征在于，基于所述测试数据与所述对应recipe的基准数据的差异，对所述对...

【技术特征摘要】

1.一种芯片测试recipe管理方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的芯片测试recipe管理方法，其特征在于，将所有的led芯片进行预处理，以对所有的led芯片进行分类的步骤，具体包括：

3.根据权利要求1所述的芯片测试recipe管理方法，其特征在于，基于所述电参数和所述光参数，将同一类别的led芯片的不同recipe进行关联，得到不同recipe的关联系数以及不同recipe的基准数据的步骤包括：

4.根据权利要求1所述的芯片测试recipe管理方法，其特征在于，基于所述测试数据与所述对应recipe的基准数据的差异，对所述对应recipe进行修正的步骤，具体包括：

5.根据权利要求4所述的芯片测试recipe管理方法，其特征在于，基于所述差异和同一类别的不同recipe的关联系数，得到不同recipe的补偿系数，以对同一类别的其他recipe进行修正补偿，从而得到同一类...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱兵兵，王先明，郭磊，董国庆，文国昇，金从龙，
申请(专利权)人：江西兆驰半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：