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一种缺陷检测方法及检测系统、设备和存储介质，方法包括：获取待测芯片的芯片图像；对所述芯片图像进行第一图像处理，所述第一图像处理包括：对所述芯片图像进行边缘检测处理，得到轮廓线图；对所述轮廓线图进行滤除处理，以滤除所述待测芯片的各轮廓线，得到...
该专利属于深圳中科飞测科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳中科飞测科技股份有限公司授权不得商用。

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