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苏州元脑智能科技有限公司
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硬盘性能测试方法、装置、电子设备和存储介质制造方法及图纸
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文档序号:40630687
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本发明提供一种硬盘性能测试方法、装置、电子设备和存储介质,属于计算机技术领域,其中,方法包括:将目标服务器切换至存储性能开发套件SPDK模式,以将目标服务器的硬盘驱动代码运行在用户态并采用轮询模式驱动输入输出I/O中断处理;将目标服务器的每...
该专利属于苏州元脑智能科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过苏州元脑智能科技有限公司授权不得商用。
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