【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及计算机，尤其涉及一种硬盘性能测试方法、装置、电子设备和存储介质。
技术介绍
1、目前随着服务器的计算量的增加，存储服务器以及大数据服务器的广泛应用，硬盘被广泛地应用在实际环境中，需要对硬盘的性能进行测试。目前对硬盘的测试主要是在内核态进行，在内核态执行硬盘性能测试程序，存在大量的内核上下文切换和中断，造成大量的延迟和开销，无法准确反映硬盘的极限性能数据。
技术实现思路
1、本专利技术提供一种硬盘性能测试方法、装置、电子设备和存储介质，用以解决现有技术中在内核态对硬盘进行测试存在的缺陷。
2、本专利技术提供一种硬盘性能测试方法，包括：
3、将目标服务器切换至存储性能开发套件spdk模式，以将目标服务器的硬盘驱动代码运行在用户态并采用轮询模式驱动输入输出i/o中断处理；
4、将所述目标服务器的每块硬盘与相应的中央处理器cpu内核绑定；
5、在所述spdk模式下，对各所述硬盘进行预设时长内的i/o测试，确定适用于对各所述硬盘进行性能测试的最优参数组合；
6、基于所述最优参数组合，对各所述硬盘进行极限性能测试。
7、根据本专利技术提供的一种硬盘性能测试方法，所述在所述spdk模式下，对各所述硬盘进行预设时长内的i/o测试，确定适用于对各所述硬盘进行性能测试的最优参数组合，包括：
8、确定多个参数组合；
9、按照每个参数组合，在所述spdk模式下，对各所述硬盘进行预设时长内的i/o测
10、确定所有所述参数组合对应的性能数据中的最大值，将所述最大值对应的参数组合作为所述最优参数组合。
11、根据本专利技术提供的一种硬盘性能测试方法，所述按照每个参数组合，在所述spdk模式下，对各所述硬盘进行预设时长内的i/o测试，获取每个参数组合对应的带宽和iops值，并对所述每个参数组合对应的带宽和iops值分别进行归一化处理后相加，得到每个参数组合对应的性能数据，包括：
12、按照每个参数组合，在所述spdk模式下，对各所述硬盘进行预设时长内的第一数据块大小的顺序读和写测试，得到每个参数组合对应的第一数据块大小的顺序读测试的带宽和第一数据块大小的顺序写测试的带宽；
13、按照每个参数组合，在所述spdk模式下，对各所述硬盘进行预设时长内的第二数据块大小的随机读和写测试，得到每个参数组合对应的第二数据块大小的随机读测试的iops值和第二数据块大小的随机写测试的iops值；
14、对所述每个参数组合对应的第一数据块大小的顺序读测试的带宽和第一数据块大小的顺序写测试的带宽进行归一化处理，得到每个参数组合的顺序读写测试的带宽；
15、对所述每个参数组合对应的第二数据块大小的随机读测试的iops值和第二数据块大小的随机写测试的iops值进行归一化处理，得到每个参数组合的随机读写测试的iops值；
16、将每个参数组合的顺序读写测试的带宽和随机读写测试的iops值相加，得到每个参数组合对应的性能数据。
17、根据本专利技术提供的一种硬盘性能测试方法，所述最优参数组合包括最优队列深度和最优线程数。
18、根据本专利技术提供的一种硬盘性能测试方法，所述基于所述最优参数组合，对各所述硬盘进行极限性能测试，包括：
19、根据所述最优队列深度和最优线程数，对各所述硬盘进行极限性能测试。
20、根据本专利技术提供的一种硬盘性能测试方法，所述将所述目标服务器的每块硬盘与相应的中央处理器cpu内核绑定，包括：
21、根据所述目标服务器的cpu内核数量和所述目标服务器的硬盘数量，确定每块硬盘对应的cpu内核数量；
22、按照每块硬盘对应的cpu内核数量，对所述目标服务器的cpu内核进行分配，以将所述目标服务器的每块硬盘与相应的cpu内核绑定。
23、根据本专利技术提供的一种硬盘性能测试方法，所述将目标服务器切换至spdk模式，包括：
24、安装spdk；
25、在所述spdk安装编译完成后，对所述spdk自带的fio测试工具进行测试参数设置；
26、其中，所述测试参数设置包括：使用export ld_preload引入fio路径，将ioengine设置为spdk，通过参数‘-filename’指定所述spdk能够识别的设备地址信息。
27、本专利技术还提供一种硬盘性能测试装置，包括：
28、初始化单元，用于将目标服务器切换至存储性能开发套件spdk模式，以将目标服务器的硬盘驱动代码运行在用户态并采用轮询模式驱动输入输出i/o中断处理；
29、绑核单元，用于将所述目标服务器的每块硬盘与相应的中央处理器cpu内核绑定；
30、计算单元，用于在所述spdk模式下，对各所述硬盘进行预设时长内的i/o测试，确定适用于对各所述硬盘进行性能测试的最优参数组合；
31、测试单元，用于基于所述最优参数组合，对各所述硬盘进行极限性能测试。
32、本专利技术还提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如上述任一种所述的硬盘性能测试方法。
33、本专利技术还提供一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如上述任一种所述的硬盘性能测试方法。
34、本专利技术还提供一种计算机程序产品，包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述任一种所述的硬盘性能测试方法。
35、本专利技术提供的硬盘性能测试方法、装置、电子设备和存储介质，通过将目标服务器切换至存储性能开发套件spdk模式，以将目标服务器的硬盘驱动代码运行在用户态并采用轮询模式驱动输入输出i/o中断处理，能够避免上下文切换和中断带来的延迟和开销，节省大量的处理资源，将所述目标服务器的每块硬盘与相应的中央处理器cpu内核绑定，可以使每块硬盘上的i/o请求都能得到及时的处理，提高了i/o处理效率，通过在spdk模式下，对各硬盘进行预设时长内的i/o测试，确定适用于对各所述硬盘进行性能测试的最优参数组合，进而基于所述最优参数组合，对各所述硬盘进行极限性能测试，可以得到更加准确的极限性能指标数据。
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1.一种硬盘性能测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的硬盘性能测试方法，其特征在于，所述在所述SPDK模式下，对各所述硬盘进行预设时长内的I/O测试，确定适用于对各所述硬盘进行性能测试的最优参数组合，包括：
3.根据权利要求2所述的硬盘性能测试方法，其特征在于，所述按照每个参数组合，在所述SPDK模式下，对各所述硬盘进行预设时长内的I/O测试，获取每个参数组合对应的带宽和IOPS值，并对所述每个参数组合对应的带宽和IOPS值分别进行归一化处理后相加，得到每个参数组合对应的性能数据，包括：
4.根据权利要求1-3中任一项所述的硬盘性能测试方法，其特征在于，所述最优参数组合包括最优队列深度和最优线程数。
5.根据权利要求4所述的硬盘性能测试方法，其特征在于，所述基于所述最优参数组合，对各所述硬盘进行极限性能测试，包括：
6.根据权利要求1所述的硬盘性能测试方法，其特征在于，所述将所述目标服务器的每块硬盘与相应的中央处理器CPU内核绑定，包括：
7.根据权利要求1所述的硬盘性能测试方法，其特征在于，
8.一种硬盘性能测试装置，其特征在于，包括：
9.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至7任一项所述的硬盘性能测试方法。
10.一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的硬盘性能测试方法。
...【技术特征摘要】
1.一种硬盘性能测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的硬盘性能测试方法，其特征在于，所述在所述spdk模式下，对各所述硬盘进行预设时长内的i/o测试，确定适用于对各所述硬盘进行性能测试的最优参数组合，包括：
3.根据权利要求2所述的硬盘性能测试方法，其特征在于，所述按照每个参数组合，在所述spdk模式下，对各所述硬盘进行预设时长内的i/o测试，获取每个参数组合对应的带宽和iops值，并对所述每个参数组合对应的带宽和iops值分别进行归一化处理后相加，得到每个参数组合对应的性能数据，包括：
4.根据权利要求1-3中任一项所述的硬盘性能测试方法，其特征在于，所述最优参数组合包括最优队列深度和最优线程数。
5.根据权利要求4所述的硬盘性能测试方法，其特征在于...
【专利技术属性】
技术研发人员：张权，
申请(专利权)人：苏州元脑智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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