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本申请提供一种适用于测试的UFS芯片转板，所述转板包括转板本体，所述转板本体上设有连接部和测试部，所述连接部具有贯穿所述转板本体的连接孔，所述连接孔的数量和待测UFS芯片的引脚的数量相同，且所述连接孔与所述待测UFS芯片的引脚对应；所述连接...
该专利属于合肥康芯威存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥康芯威存储技术有限公司授权不得商用。

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