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本发明涉及一种基于半监督学习的混合集成电路组件缺陷检测方法，属于混合集成电路技术领域，解决现有技术中的方法检测精度不够高，效率较低，鲁棒性较差、泛化能力不好的技术问题。该方法包括以下步骤：图像采集，切图筛选，数据集制作，网络模型构建，网络模...
该专利属于长春理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过长春理工大学授权不得商用。

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