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本发明公开了一种芯片的测试结果分析方法及相关组件，涉及测试领域，包括创建测试结果分析脚本；在仿真环境中模拟待测芯片测试，得到待测芯片输出的预期结果；运行测试结果分析脚本，从待测芯片的测试失效文件中提取失败管脚的标识及失败管脚的持续周期；控制...
该专利属于苏州国芯科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州国芯科技股份有限公司授权不得商用。

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