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本申请实施例提供一种芯片性能及功耗分析方法、装置及相关设备，芯片性能及功耗分析方法包括：通过对所述标准单元模型进行仿真，获得各类型晶体管对标准单元性能及功耗影响的第一影响参数组；根据所述第一影响参数组和标准单元使用比率，获得各类型晶体管对芯...
该专利属于海光信息技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过海光信息技术股份有限公司授权不得商用。

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