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本发明提供一种利用AI动态调节老化测试参数的方法及系统，该方法包括：对芯片进行测试；获取芯片经过测试的参数，并将所述参数输入AI机械学习模型；AI机械学习模型根据所述参数动态调节老化测试条件。本发明能够通过AI机械学习模型根据芯片生产过程中...
该专利属于天狼芯半导体（成都）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过天狼芯半导体（成都）有限公司授权不得商用。

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