温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种多连串LED芯片的失效异常测检方法，包括：在多连串LED芯片点测过程中，采用成像式亮色度计拍摄多连串LED芯片的图像；从图像中提取子LED芯片的第一参数；通过第一参数判断是否存在子LED芯片的失效异常；其中，第一参数是亮度有...
该专利属于武汉精立电子技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉精立电子技术有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。