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本申请公开了一种芯片测试电路及测试系统。其中，该电路包括：测试电源阵列，选通模块，校准模块，其中，测试电源阵列，包括至少一个测试电源，测试电源通过选通模块与待测元件或校准模块连接，并且在测试电源通过选通模块与待测元件连接的情况下，测试电源通...
该专利属于杭州长川科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州长川科技股份有限公司授权不得商用。

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