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本申请涉及电子产品故障分析技术领域，公开了一种多应力条件下电子产品故障机理分析方法和装置，通过获取电子产品在多应力条件下的总应力故障特征值和历史故障增量，这样可根据电子产品在历史时间范围内的历史故障增量和在多应力条件下的总应力故障特征值构建...
该专利属于中国航天标准化研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国航天标准化研究所授权不得商用。

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