【技术实现步骤摘要】
本申请涉及电子产品故障分析，特别涉及一种多应力条件下电子产品故障机理分析方法和装置。
技术介绍
1、伴随电子技术的进步，电子产品的可靠性问题也逐渐突显出来。电子产品由众多的电子元器件和集成电路构成，电子元器件的质量和可靠性决定了产品的可靠性，因此设计工程师和元器件工程师对于电子元器件的可靠性问题尤为关注。只有先找到影响产品可靠性的故障缺陷才能采取相应的措施。然而现有电子产品的故障受到多种应力的共同影响，例如温度应力、腐蚀应力、电应力、振动应力等，在多应力的影响下，无法对电子产品的故障机理进行分析。
技术实现思路
1、本申请提供了一种多应力条件下电子产品故障机理分析方法，旨在解决现有技术中在多应力的影响下，难以对电子产品的故障机理进行准确分析的技术问题。
2、本申请提供了一种多应力条件下电子产品故障机理分析方法，包括：
3、获取电子产品的历史故障增量，其中，所述历史故障增量表示电子产品在历史时间范围内故障程度逐渐增加的量；
4、获取电子产品的在多应力条件下的总应力故障特征值，其中，所述多应力条件指电子产品在正常工作状态下的工作条件类型；
5、根据所述历史故障增量和所述总应力故障特征值构建多应力故障机理分析模型；
6、获取电子产品的历史故障分析结果，并将所述历史故障分析结果作为训练样本输入多应力故障机理分析模型中，以对多应力故障机理分析模型进行参数修正，得到修正后的多应力故障机理分析模型；
7、获取电子产品的当前故
8、将当前故障数据输入至修正后的多应力故障分析模型中，输出当前故障机理分析结果。
9、作为优选，所述获取电子产品的历史故障增量的步骤，包括：
10、获取电子产品在多个历史时间点的尺度参数和形状参数；
11、根据所述尺度参数和形状参数计算每个历史时间点故障程度值；
12、根据多个历史时间点的故障程度值计算故障增量，其中，计算公式为：
13、
14、其中，f(x)表示故障增量，i表示历史时间点的编号，j表示历史时间点的总数，yi表示电子产品在第i个时间点的尺度参数，xi表示电子产品在第i个时间点的故障程度值，ηi表示电子产品在第i个时间点的形状参数，xj表示电子产品在第j个时间点的故障程度值；
15、获取所述故障增量并将所述故障增量作为电子产品的历史故障增量。
16、作为优选，所述获取电子产品的多应力条件的总应力故障特征值的步骤，包括：
17、获取电子产品多个历史时间点的多应力条件类型，其中多应力条件包括工作电压、工作电流、工作功率、工作评率、电机转速、工作温度；
18、根据多应力条件类型获取与所述多应力条件类型对应的应力水平；
19、根据所述多应力条件类型对应的应力水平计算每个历史时间点的应力故障特征值，其中，计算公式为：
20、
21、其中，所述t表示历史时间点的编号，n表示应力类型的编号，所述x(t)表示电子产品在t时间点的应力故障特征值，a为应力故障特征值计算公式所对应的第一参数值，bn表示应力故障特征值计算公式第n个应力类型所对应的第二参数值，sn表示第n个应力类型所对应的应力水平；
22、对每个历史时间点的应力故障特征值进行汇总，得到总应力故障特征值。
23、作为优选，所述根据所述历史故障增量和所述总应力故障特征值构建多应力故障机理分析模型的步骤中，多应力故障机理分析模型的表达式为：
24、
25、其中，f(y)表示故障分析结果值，表示电子产品的历史故障增量所对应的权重系数，f(x)表示电子产品的历史故障增量，x(t)表示电子产品的总应力故障特征值，θ表示电子产品的多应力故障机理分析模型的参数。
26、作为优选，所述将当前故障数据输入至修正后的多应力故障分析模型中，输出当前故障机理分析结果的步骤之后，还包括：
27、根据当前故障机理分析结果和历史故障分析结果计算加速因子；
28、根据加速因子对电子产品的寿命进行预测，得到预测结果。
29、本申请还提供一种多应力条件下电子产品故障机理分析装置，包括：
30、第一获取模块，用于获取电子产品的历史故障增量，其中，所述历史故障增量表示电子产品在历史时间范围内故障程度逐渐增加的量；
31、第二获取模块，用于获取电子产品的在多应力条件下的总应力故障特征值，其中，所述多应力条件指电子产品在正常工作状态下的工作条件类型；
32、构建模块，用于根据所述历史故障增量和所述总应力故障特征值构建多应力故障机理分析模型；
33、第三获取模块，用于获取电子产品的历史故障分析结果，并将所述历史故障分析结果作为训练样本输入多应力故障机理分析模型中，以对多应力故障机理分析模型进行参数修正，得到修正后的多应力故障机理分析模型；
34、第四获取模块，用于获取电子产品的当前故障数据，其中，当前故障数据包括当前故障增量和当前总应力故障特征值；
35、输出模块，用于将当前故障数据输入至修正后的多应力故障分析模型中，输出当前故障机理分析结果。
36、作为优选，其特征在于，所述第一获取模块，包括：
37、第一获取单元，用于获取电子产品在多个历史时间点的尺度参数和形状参数；
38、第一计算单元，用于根据所述尺度参数和形状参数计算每个历史时间点故障程度值；
39、第二计算单元，用于根据多个历史时间点的故障程度值计算故障增量，其中，计算公式为：
40、
41、其中，f(x)表示故障增量，i表示历史时间点的编号，j表示历史时间点的总数，yi表示电子产品在第i个时间点的尺度参数，xi表示电子产品在第i个时间点的故障程度值，ηi表示电子产品在第i个时间点的形状参数，xj表示电子产品在第j个时间点的故障程度值；
42、第二获取单元，用于获取所述故障增量并将所述故障增量作为电子产品的历史故障增量。
43、作为优选，所述第二获取模块，包括：
44、第三获取单元，用于获取电子产品多个历史时间点的多应力条件类型，其中多应力条件包括工作电压、工作电流、工作功率、工作评率、电机转速、工作温度；
45、第四获取单元，用于根据多应力条件类型获取与所述多应力条件类型对应的应力水平；
46、第三计算单元，用于根据所述多应力条件类型对应的应力水平计算每个历史时间点的应力故障特征值，其中，计算公式为：
47、
48、其中，所述t表示历史时间点的编号，n表示应力类型的编号，所述x(t)表示电子产品在t时间点的应力故障特征值，a为应力故障特征值计算公式所对应的第一参数值，bn表示应力故障特征值计算公式第n个应力类型本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种多应力条件下电子产品故障机理分析方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的多应力条件下电子产品故障机理分析方法，其特征在于，所述获取电子产品的历史故障增量的步骤，包括：
3.根据权利要求1所述的多应力条件下电子产品故障机理分析方法，其特征在于，所述获取电子产品的多应力条件的总应力故障特征值的步骤，包括：
4.根据权利要求1所述的多应力条件下电子产品故障机理分析方法，其特征在于，所述根据所述历史故障增量和所述总应力故障特征值构建多应力故障机理分析模型的步骤中，多应力故障机理分析模型的表达式为：
5.根据权利要求1所述的多应力条件下电子产品故障机理分析方法，其特征在于，所述将当前故障数据输入至修正后的多应力故障分析模型中，输出当前故障机理分析结果的步骤之后，还包括：
6.一种多应力条件下电子产品故障机理分析装置，其特征在于，包括：
7.根据权利要求6所述的多应力条件下电子产品故障机理分析装置，其特征在于，所述第一获取模块，包括：
8.根据权利要求6所述的多应力条件下电子产品故障机理分析
9.根据权利要求6所述的多应力条件下电子产品故障机理分析装置，其特征在于，所述多应力故障机理分析模型的表达式为：
10.根据权利要求1所述的多应力条件下电子产品故障机理分析装置，其特征在于，还包括：
...【技术特征摘要】
1.一种多应力条件下电子产品故障机理分析方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的多应力条件下电子产品故障机理分析方法，其特征在于，所述获取电子产品的历史故障增量的步骤，包括：
3.根据权利要求1所述的多应力条件下电子产品故障机理分析方法，其特征在于，所述获取电子产品的多应力条件的总应力故障特征值的步骤，包括：
4.根据权利要求1所述的多应力条件下电子产品故障机理分析方法，其特征在于，所述根据所述历史故障增量和所述总应力故障特征值构建多应力故障机理分析模型的步骤中，多应力故障机理分析模型的表达式为：
5.根据权利要求1所述的多应力条件下电子产品故障机理分析方法，其特征...
【专利技术属性】
技术研发人员：朱兴高，任立明，栾家辉，刘鹏飞，代永德，米海波，
申请(专利权)人：中国航天标准化研究所，
类型：发明
国别省市：
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