下载用于分段静态随机存取存储器(SRAM)阵列输入/输出的内置自测试电路的技术资料

文档序号:40551451

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本公开涉及用于分段静态随机存取存储器(SRAM)阵列输入/输出的内置自测试电路。存储器的存储器阵列包括具有以行‑列矩阵布置的存储器单元的子阵列,其中每行包括字线并且每个子阵列的列包括局部位线。行解码器电路支持存储器电路操作的两种模式:第一模...
该专利属于意法半导体国际公司所有,仅供学习研究参考,未经过意法半导体国际公司授权不得商用。

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