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本发明涉及电子设备测试技术领域，具体公开了基板测试方法及测试设备。该方法包括以下步骤，将检测头置于合格件的顶面；测试合格件的工作情况；判断合格件是否正常工作，若否，则更换检测头，然后重新检测；将合格件和置于合格件上的检测头作为一个探针卡，将...
该专利属于山东华菱电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过山东华菱电子股份有限公司授权不得商用。

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