【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电子设备测试，尤其涉及基板测试方法及测试设备。
技术介绍
1、在电子制造行业，基板是一种常见的电子元器件，如pcb(printed circuitboard，印刷电路板)和ic(integrated circuit，集成电路)等。基板在生产过程中，需要进行测试，以确保其质量和性能满足要求。
2、目前，传统的测试方法为手动测试，这种方法效率低、成本高且易出错。在现代制造业中，基板测试设备已成为提高生产效率和质量的关键技术。它可以减少人为错误，提高测试的准确性和一致性，同时节省时间和成本。然而，需要注意的是，基板测试设备的选择和应用需要根据具体的生产需求和测试要求进行评估和选择。面对不同类型的基板和测试需求，需要应用不同的探针卡进行测试。然而，现有的基板测试设备的自动化程度低下，存在测试效率低和测试精度低等问题，且对于不同探针卡的切换操作较为繁琐，难以实现探针卡的高效精确切换。
3、在测试过程中，探针卡易因刚性碰撞而产生损伤故障，从而严重地影响测试的结果。而现有的基板测试设备同样无法对及时地检测探针卡，...
【技术保护点】
1.基板测试方法，用于测试待测基板(35)，其特征在于，包括以下步骤：
2.基板测试设备，适用于权利要求1所述的基板测试方法，其特征在于，所述基板测试设备包括所述转盘装置、所述检测装置和所述传送装置；所述转盘装置包括转盘底座(18)、夹持组件(16)和转盘本体(13)，所述转盘本体(13)转动连接于所述转盘底座(18)，所述转盘本体(13)上周向均布有若干安装位，所述探针卡可拆卸安装于所述安装位，所述转盘本体(13)能绕自身轴线旋转，使每个所述探针卡均能经过所述拿取位置，所述夹持组件(16)选择性夹持位于所述拿取位置的所述探针卡的所述合格件(15)；所述检...
【技术特征摘要】
1.基板测试方法，用于测试待测基板(35)，其特征在于，包括以下步骤：
2.基板测试设备，适用于权利要求1所述的基板测试方法，其特征在于，所述基板测试设备包括所述转盘装置、所述检测装置和所述传送装置；所述转盘装置包括转盘底座(18)、夹持组件(16)和转盘本体(13)，所述转盘本体(13)转动连接于所述转盘底座(18)，所述转盘本体(13)上周向均布有若干安装位，所述探针卡可拆卸安装于所述安装位，所述转盘本体(13)能绕自身轴线旋转，使每个所述探针卡均能经过所述拿取位置，所述夹持组件(16)选择性夹持位于所述拿取位置的所述探针卡的所述合格件(15)；所述检测装置选择性吸附并带动所述检测头(23)；所述传送装置用于沿工作路径传送所述待测基板(35)，所述工作路径经过所述测试位置。
3.根据权利要求2所述的基板测试设备，其特征在于，所述传送装置包括平台底板(1)以及安装于所述平台底板(1)上的顶升组件、止动组件(10)和搬运组件，所述搬运组件用于带动置于所述搬运组件上的所述待测基板(35)沿所述工作路径移动，所述平台底板(1)上固接有若干三角定位块(11)，所述止动组件(10)能将所述待测基板(35)止动于所述测试位置，所述顶升组件包括能相对所述平台底板(1)升降的升降平台(2)，所述待测基板(35)能夹设于所述升降平台(2)与所述三角定位块(11)之间。
4.根据权利要求3所述的基板测试设备，其特征在于，所述止动组件(10)包括止动驱动单元及固接于所述止动驱动单元输出端的定位柱，所述止动驱动单元用于带动所述定位柱在止动位置与避让位置之间移动，当所述定位柱位于所述避让位置时，所述定位柱与所述工作路径间隔设置；当所述定位柱位于所述止动位置时，沿所述工作路径移动的所述待测基板(35)止动于所述待测基板(35)与所述定位柱相抵靠。
5.根据权利要求4所述的基板测试设备，其特征在于，所述定位柱沿垂直于所述工作路径的方向延伸，所述定位柱远离所述止动驱动单元的一端设有倒角。
6.根据权利要求3所述的基板测试设备，其特征在于，所述搬运组件包括传送固定立板(3)、活动板、调宽定位板(12)、传送驱动模块和宽度调节模块，所述传送固定立板(3)和所述调宽定位板(12)正对设置且均固接于所述平台底板(1)上，所述传送固定立板(3)上设有第一同步带，所述活动板上设有第二同步带(7)，所...
【专利技术属性】
技术研发人员：王欢，苏伟，徐华，姜林，王友刚，李殿坤，曹建军，孙杰，
申请(专利权)人：山东华菱电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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