【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电子设备测试，尤其涉及基板测试方法及测试设备。
技术介绍
1、在电子制造行业，基板是一种常见的电子元器件，如pcb(printed circuitboard，印刷电路板)和ic(integrated circuit，集成电路)等。基板在生产过程中，需要进行测试，以确保其质量和性能满足要求。
2、目前，传统的测试方法为手动测试，这种方法效率低、成本高且易出错。在现代制造业中，基板测试设备已成为提高生产效率和质量的关键技术。它可以减少人为错误，提高测试的准确性和一致性，同时节省时间和成本。然而，需要注意的是，基板测试设备的选择和应用需要根据具体的生产需求和测试要求进行评估和选择。面对不同类型的基板和测试需求，需要应用不同的探针卡进行测试。然而，现有的基板测试设备的自动化程度低下，存在测试效率低和测试精度低等问题，且对于不同探针卡的切换操作较为繁琐，难以实现探针卡的高效精确切换。
3、在测试过程中，探针卡易因刚性碰撞而产生损伤故障，从而严重地影响测试的结果。而现有的基板测试设备同样无法对及时地检测探针卡，难以判断测试是否正常进行。
4、因此，亟需一种自动化基板测试方法，以提高基板测试的效率，减少测试的成本，提高测试结果的准确性。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供基板测试方法及测试设备，以提高基板测试的效率，减少测试的成本，提高测试结果的准确性。
2、为达此目的，本专利技术采用以下技术方案：
3、基板测试方
4、s10：将检测头置于合格件的顶面，使所述检测头通信连接所述合格件；
5、s20：测试所述合格件的工作情况；
6、s30：判断所述合格件是否正常工作，若是，则进行s40，若否，则更换所述检测头，然后返回s20；
7、s40：将所述合格件和置于所述合格件上的所述检测头作为一个探针卡，将若干所述探针卡安装于转盘装置上；
8、s50：利用传送装置将所述待测基板传送至测试位置，判断所述待测基板的类型，并利用所述转盘装置将对应的所述探针卡移动至拿取位置；
9、s60：利用检测装置先从位于所述拿取位置的所述探针卡上吸附所述检测头，再将所述检测头抵压于所述待测基板上，使所述检测头通信连接所述待测基板；
10、s70：判断所述待测基板是否正常工作，若是，则将所述待测基板视为合格品，然后进行s80，若否，则将所述待测基板视为残次品，然后进行s80；
11、s80：利用传送装置将所述待测基板传送出所述传送装置。
12、基板测试设备，适用于上述的基板测试方法，所述基板测试设备包括所述转盘装置、所述检测装置和所述传送装置；所述转盘装置包括转盘底座、夹持组件和转盘本体，所述转盘本体转动连接于所述转盘底座，所述转盘本体上周向均布有若干安装位，所述探针卡可拆卸安装于所述安装位，所述转盘本体能绕自身轴线旋转，使每个所述探针卡均能经过所述拿取位置，所述夹持组件选择性夹持位于所述拿取位置的所述探针卡的所述合格件；所述检测装置选择性吸附并带动所述检测头；所述传送装置用于沿工作路径传送所述待测基板，所述工作路径经过所述测试位置。
13、作为基板测试设备的优选技术方案，所述传送装置包括平台底板以及安装于所述平台底板上的顶升组件、止动组件和搬运组件，所述搬运组件用于带动置于所述搬运组件上的所述待测基板沿所述工作路径移动，所述平台底板上固接有若干三角定位块，所述止动组件能将所述待测基板止动于所述测试位置，所述顶升组件包括能相对所述平台底板升降的升降平台，所述待测基板能夹设于所述升降平台与所述三角定位块之间。
14、作为基板测试设备的优选技术方案，所述止动组件包括止动驱动单元及固接于所述止动驱动单元输出端的定位柱，所述止动驱动单元用于带动所述定位柱在止动位置与避让位置之间移动，当所述定位柱位于所述避让位置时，所述定位柱与所述工作路径间隔设置；当所述定位柱位于所述止动位置时，沿所述工作路径移动的所述待测基板止动于所述待测基板与所述定位柱相抵靠。
15、作为基板测试设备的优选技术方案，所述定位柱沿垂直于所述工作路径的方向延伸，所述定位柱远离所述止动驱动单元的一端设有倒角。
16、作为基板测试设备的优选技术方案，所述搬运组件包括传送固定立板、活动板、调宽定位板、传送驱动模块和宽度调节模块，所述传送固定立板和所述调宽定位板正对设置且均固接于所述平台底板上，所述传送固定立板上设有第一同步带，所述活动板上设有第二同步带，所述第一同步带和所述第二同步带相互平行；所述传送驱动模块用于驱动转轴旋转，所述转轴同轴固接有第一传动轮，所述第一传动轮转动连接于所述传送固定立板，所述转轴上滑设有同轴的第二传动轮，所述第二传动轮转动连接于所述活动板，所述转轴通过所述第一传动轮带动所述第一同步带，所述转轴通过所述第二传动轮带动所述第二同步带，使所述第一同步带和所述第二同步带同步传送所述待测基板；所述宽度调节模块用于调节所述活动板靠近或远离所述传送固定立板。
17、作为基板测试设备的优选技术方案，所述转盘装置还包括转盘驱动单元，所述转盘驱动单元的输出端同轴固接于所述转盘本体，所述转盘驱动单元用于驱动所述转盘本体绕所述转盘本体的轴线旋转。
18、作为基板测试设备的优选技术方案，所述升降平台设于所述测试位置正下方，所述升降平台能相对所述平台底板在顶升位置与收回位置之间移动，所述升降平台所在的平面平行于所述待测基板所在的平面，当所述升降平台从所述收回位置移动至所述顶升位置的过程中，所述升降平台自下而上推动位于所述测试位置的所述待测基板，直至所述待测基板夹设于所述升降平台与所述三角定位块之间。
19、作为基板测试设备的优选技术方案，所述检测装置包括y轴模组、x轴模组、吸附单元和z轴模组，所述吸附单元能吸附或释放所述检测头，所述x轴模组活动安装于所述y轴模组上，所述x轴模组能相对所述y轴模组沿第一方向移动，所述z轴模组活动安装于所述x轴模组上，所述z轴模组能相对所述x轴模组沿第二方向移动，所述吸附单元活动安装于所述z轴模组上，所述吸附单元能相对所述z轴模组沿第三方向移动；其中，所述第一方向、所述第二方向和所述第三方向两两垂直。
20、作为基板测试设备的优选技术方案，所述检测装置还包括固接于所述z轴模组上的测试摄像头，所述测试摄像头用于拍摄所述吸附单元以及所述吸附单元所吸附的所述检测头。
21、本专利技术的有益效果：
22、该基板测试方法通过对合格件的工作情况的测试，得以在对待测基板进行测试前，先对检测头进行测试，以确保结构脆弱的检测头在对待测基板进行测试之前都保持完好，从而提升了测试结果的准确性。借助转盘装置、检测装置和传送装置的配合，得以先使待测基板移动到位，再选取对应类型的探针卡，将探针卡上的检测头拆卸下来并通信连接于待测基板，进行测试并判断待测基板是否合格。以上测试保障本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.基板测试方法，用于测试待测基板(35)，其特征在于，包括以下步骤：
2.基板测试设备，适用于权利要求1所述的基板测试方法，其特征在于，所述基板测试设备包括所述转盘装置、所述检测装置和所述传送装置；所述转盘装置包括转盘底座(18)、夹持组件(16)和转盘本体(13)，所述转盘本体(13)转动连接于所述转盘底座(18)，所述转盘本体(13)上周向均布有若干安装位，所述探针卡可拆卸安装于所述安装位，所述转盘本体(13)能绕自身轴线旋转，使每个所述探针卡均能经过所述拿取位置，所述夹持组件(16)选择性夹持位于所述拿取位置的所述探针卡的所述合格件(15)；所述检测装置选择性吸附并带动所述检测头(23)；所述传送装置用于沿工作路径传送所述待测基板(35)，所述工作路径经过所述测试位置。
3.根据权利要求2所述的基板测试设备，其特征在于，所述传送装置包括平台底板(1)以及安装于所述平台底板(1)上的顶升组件、止动组件(10)和搬运组件，所述搬运组件用于带动置于所述搬运组件上的所述待测基板(35)沿所述工作路径移动，所述平台底板(1)上固接有若干三角定位块(11)，所
4.根据权利要求3所述的基板测试设备，其特征在于，所述止动组件(10)包括止动驱动单元及固接于所述止动驱动单元输出端的定位柱，所述止动驱动单元用于带动所述定位柱在止动位置与避让位置之间移动，当所述定位柱位于所述避让位置时，所述定位柱与所述工作路径间隔设置；当所述定位柱位于所述止动位置时，沿所述工作路径移动的所述待测基板(35)止动于所述待测基板(35)与所述定位柱相抵靠。
5.根据权利要求4所述的基板测试设备，其特征在于，所述定位柱沿垂直于所述工作路径的方向延伸，所述定位柱远离所述止动驱动单元的一端设有倒角。
6.根据权利要求3所述的基板测试设备，其特征在于，所述搬运组件包括传送固定立板(3)、活动板、调宽定位板(12)、传送驱动模块和宽度调节模块，所述传送固定立板(3)和所述调宽定位板(12)正对设置且均固接于所述平台底板(1)上，所述传送固定立板(3)上设有第一同步带，所述活动板上设有第二同步带(7)，所述第一同步带和所述第二同步带(7)相互平行；所述传送驱动模块用于驱动转轴旋转，所述转轴同轴固接有第一传动轮，所述第一传动轮转动连接于所述传送固定立板(3)，所述转轴上滑设有同轴的第二传动轮(8)，所述第二传动轮(8)转动连接于所述活动板，所述转轴通过所述第一传动轮带动所述第一同步带，所述转轴通过所述第二传动轮(8)带动所述第二同步带(7)，使所述第一同步带和所述第二同步带(7)同步传送所述待测基板(35)；所述宽度调节模块用于调节所述活动板靠近或远离所述传送固定立板(3)。
7.根据权利要求3所述的基板测试设备，其特征在于，所述转盘装置还包括转盘驱动单元，所述转盘驱动单元的输出端同轴固接于所述转盘本体(13)，所述转盘驱动单元用于驱动所述转盘本体(13)绕所述转盘本体(13)的轴线旋转。
8.根据权利要求3所述的基板测试设备，其特征在于，所述升降平台(2)设于所述测试位置正下方，所述升降平台(2)能相对所述平台底板(1)在顶升位置与收回位置之间移动，所述升降平台(2)所在的平面平行于所述待测基板(35)所在的平面，当所述升降平台(2)从所述收回位置移动至所述顶升位置的过程中，所述升降平台(2)自下而上推动位于所述测试位置的所述待测基板(35)，直至所述待测基板(35)夹设于所述升降平台(2)与所述三角定位块(11)之间。
9.根据权利要求2-8任一项所述的基板测试设备，其特征在于，所述检测装置包括Y轴模组(19)、X轴模组(25)、吸附单元(22)和Z轴模组(28)，所述吸附单元(22)能吸附或释放所述检测头(23)，所述X轴模组(25)活动安装于所述Y轴模组(19)上，所述X轴模组(25)能相对所述Y轴模组(19)沿第一方向(Y)移动，所述Z轴模组(28)活动安装于所述X轴模组(25)上，所述Z轴模组(28)能相对所述X轴模组(25)沿第二方向(X)移动，所述吸附单元(22)活动安装于所述Z轴模组(28)上，所述吸附单元(22)能相对所述Z轴模组(28)沿第三方向(Z)移动；其中，所述第一方向(Y)、所述第二方向(X)和所述第三方向(Z)两两垂直。
10.根据权利要求9所述的基板测试设备，其特征在于，所述检测装置还包括固接于所述Z轴模组(28)上的测试摄像头(...
【技术特征摘要】
1.基板测试方法，用于测试待测基板(35)，其特征在于，包括以下步骤：
2.基板测试设备，适用于权利要求1所述的基板测试方法，其特征在于，所述基板测试设备包括所述转盘装置、所述检测装置和所述传送装置；所述转盘装置包括转盘底座(18)、夹持组件(16)和转盘本体(13)，所述转盘本体(13)转动连接于所述转盘底座(18)，所述转盘本体(13)上周向均布有若干安装位，所述探针卡可拆卸安装于所述安装位，所述转盘本体(13)能绕自身轴线旋转，使每个所述探针卡均能经过所述拿取位置，所述夹持组件(16)选择性夹持位于所述拿取位置的所述探针卡的所述合格件(15)；所述检测装置选择性吸附并带动所述检测头(23)；所述传送装置用于沿工作路径传送所述待测基板(35)，所述工作路径经过所述测试位置。
3.根据权利要求2所述的基板测试设备，其特征在于，所述传送装置包括平台底板(1)以及安装于所述平台底板(1)上的顶升组件、止动组件(10)和搬运组件，所述搬运组件用于带动置于所述搬运组件上的所述待测基板(35)沿所述工作路径移动，所述平台底板(1)上固接有若干三角定位块(11)，所述止动组件(10)能将所述待测基板(35)止动于所述测试位置，所述顶升组件包括能相对所述平台底板(1)升降的升降平台(2)，所述待测基板(35)能夹设于所述升降平台(2)与所述三角定位块(11)之间。
4.根据权利要求3所述的基板测试设备，其特征在于，所述止动组件(10)包括止动驱动单元及固接于所述止动驱动单元输出端的定位柱，所述止动驱动单元用于带动所述定位柱在止动位置与避让位置之间移动，当所述定位柱位于所述避让位置时，所述定位柱与所述工作路径间隔设置；当所述定位柱位于所述止动位置时，沿所述工作路径移动的所述待测基板(35)止动于所述待测基板(35)与所述定位柱相抵靠。
5.根据权利要求4所述的基板测试设备，其特征在于，所述定位柱沿垂直于所述工作路径的方向延伸，所述定位柱远离所述止动驱动单元的一端设有倒角。
6.根据权利要求3所述的基板测试设备，其特征在于，所述搬运组件包括传送固定立板(3)、活动板、调宽定位板(12)、传送驱动模块和宽度调节模块，所述传送固定立板(3)和所述调宽定位板(12)正对设置且均固接于所述平台底板(1)上，所述传送固定立板(3)上设有第一同步带，所述活动板上设有第二同步带(7)，所...
【专利技术属性】
技术研发人员：王欢，苏伟，徐华，姜林，王友刚，李殿坤，曹建军，孙杰，
申请(专利权)人：山东华菱电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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