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本发明公开了一种异质环境中粒子多模态移动轨迹的分析方法，包括以下步骤，使用倒置荧光显微镜获取样品中荧光探针的图像；针对探针发出的荧光信号做高斯拟合，从而准确确定探针的位置；将每一帧中探针的位置关联起来，得到探针在不同时刻的位置信息，亦即其轨...
该专利属于华南理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过华南理工大学授权不得商用。

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