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用于带电粒子显微镜成像的自动选择和模型训练。本文公开了CPM支持系统，以及相关方法、计算装置和计算机可读介质。例如，在一些实施方案中，一种方法可包括：基于指示显微镜学成像数据的区域的选择的选择数据来确定用于机器学习模型的训练数据。该方法可包...
该专利属于FEI公司所有，仅供学习研究参考，未经过FEI公司授权不得商用。

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