下载一种用于暗室背景电平评估测试的低散射载体的技术资料

文档序号:40543912

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本发明涉及一种用于暗室背景电平评估测试的低散射载体,涉及电磁散射特性测量领域,包括表壳、前吊点、后吊点和接口,表壳为水滴形结构,表壳长度方向一侧宽度大的部分为前端部,表壳长度方向另一侧宽度窄的部分为后端部,表壳底部为平面,表壳顶部为曲面,前...
该专利属于北京环境特性研究所所有,仅供学习研究参考,未经过北京环境特性研究所授权不得商用。

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