温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明涉及一种用于对由具有纳米横截面尺寸的单个纵向各向异性磁性样品结构中的纳米缺陷所引起的一个或多个磁性不均匀性进行非扰动检测的方法。具有单个自旋缺陷的固态晶格被用于各向异性磁性样品结构的磁强计评估，以确定关于样品结构中的微小缺陷和不一致性...
该专利属于量子纳米股份公司所有，仅供学习研究参考，未经过量子纳米股份公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。