专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
上海朋熙半导体有限公司
>
缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读介质制造方法及图纸
>技术资料下载
下载缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读介质的技术资料
文档序号:40536417
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本申请提供了一种缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读介质。通过获取待检测对象的待检测图像,将所述待检测图像输入至预先训练的缺陷检测模型中,得到所述缺陷检测模型输出的缺陷检测类别以及各所述缺陷检测类别对应的类别置信度;根据各所述缺陷检测类别和...
该专利属于上海朋熙半导体有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海朋熙半导体有限公司授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。