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本申请公开了一种存储芯片的测试大板和测试装置，测试大板包括底板、多个测试小板、多个连接器和多个测试座，其中，底板设置有多个测试接口；多个测试小板对应多个所述测试接口设置；连接器设置在所述测试小板上，用于连接所述测试接口和所述测试小板之间的电...
该专利属于深圳市时创意电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市时创意电子有限公司授权不得商用。

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