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本技术属于电阻测量设备技术领域，提供了一种导电膜连接电阻的测量装置，包括：支撑台、测量台、芯片支架、导辊支架、负极导辊、导轮支架、正极导轮和升降机构；正极导轮、裸芯片、负极导辊和电阻计形成通路对裸芯片上的导电胶阻值进行测量；能够有效获取导电...
该专利属于山东金鼎电子材料有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过山东金鼎电子材料有限公司授权不得商用。

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