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本申请涉及一种瑕疵检测方法、装置、计算机设备和存储介质。方法包括：通过第一权重矩阵对待检测图像进行特征提取得到瑕疵数量卷积特征图，通过第二权重矩阵对待检测图像进行特征提取得到瑕疵等级卷积特征图；对瑕疵数量卷积特征图进行全局最大池化处理，对瑕...
该专利属于深圳市宗匠科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市宗匠科技有限公司授权不得商用。

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