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本申请题为“用于自动视觉缺陷检查之后的电子裸片覆墨的系统和方法”。在提供半导体器件的方法(1000A)和具有用于执行该方法的指令的计算机可读介质中，该方法(1000A)包括接收(1005)第一晶圆缺陷图，其定义比较区域并标识晶圆的视觉缺陷位...
该专利属于德克萨斯仪器股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过德克萨斯仪器股份有限公司授权不得商用。

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