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本发明公开了一种表征紫磷厚度的方法及其在光电领域的应用，属于无机纳米材料测量技术领域。首先通过自上而下的减薄法对紫磷块体进行减薄，得到不同厚度的紫磷，然后将不同厚度的紫磷转移至基底上，合理选择采用透射电子显微镜、扫描电子显微镜、光学显微镜、...
该专利属于陕西科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过陕西科技大学授权不得商用。

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