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本发明公开了一种内置式探针负载测试平台，包括：底座；所述底座的上方设置有夹具，通过所述底座和所述夹具配合，对待测芯片进行夹持；所述底座的底部设置有第一同轴负载组件，所述夹具内部设置有第二同轴负载组件，所述第一同轴负载组件和所述第二同轴负载组...
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