下载射频芯片三温手动测试箱的技术资料

文档序号:40517009

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本发明公开了射频芯片三温手动测试箱,包括测试保温组件,所述测试保温组件一侧设置有测试温控组件,所述测试保温组件与所述测试温控组件之间通过耐高低温组件连接,所述测试保温组件顶部设置有进气组件,所述测试保温组件顶部位于进气组件一侧设置有排气组件...
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