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本发明公开了一种芯片射频测试平台，包括：底座；所述底座内侧嵌入设计活动板，在所述活动板上设置有定位基座和限位框架，所述限位框架设置在所述定位基座的一侧，所述定位基座上安装有测试组件，通过调节所述测试组件在所述定位基座上的位置，检测所述限位框...
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