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本发明公开了一种少样本环境下的半导体芯片缺陷分割方法，该方法首次提出了基于少样本学习的交互式分割网络。在该网络中，通过深度残差网络提取图像的各种特征以及先验掩膜信息。前景语义重构模块引入对比损失，压缩背景中的已知类和潜在类，提取出查询图像的...
该专利属于华南理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过华南理工大学授权不得商用。

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