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本公开涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种可调节芯片测试板和芯片测试方法，所述可调节芯片测试板包括：母板，包括至少一个测试位，所述测试位连接到多条引线，所述引线用于连接待测芯片的相应管脚；跳线区，设置于所述母板；所述跳线区包括至少一个跳线电路...
该专利属于北京芯可鉴科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京芯可鉴科技有限公司授权不得商用。

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