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本申请提出了一种芯片四面检测方法，通过计算机获取待检测芯片、入料平台模组、入料arm模组、芯片检测平台、出料arm模组和出料平台模组等坐标信息计算待检测芯片及各模组运动路径并控制各模组运动至对应路径实现待检测芯片4面的检测。采用此种方法通过...
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