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本发明公开一种用于大功率芯片测试的冷却装置，该用于大功率芯片测试的冷却装置包括风冷柜体、导流组件和多个液冷组件，风冷柜体开设有第一进风口和出风口；导流组件设置在所述风冷柜体的第一进风口处；所述液冷组件包括液体入口和液体出口，所述液冷组件内部...
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