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本发明揭示了一种高精度电容测量电路及测量方法,待测电容的第一端和第二端分别与第一端口和第二端口相连,所述测量电路包括电阻及V/I源,所述电阻的第一端和第二端分别与第一端口和第二端口相连,所述V/I源的正极和负极分别与第一端口和第二端口相连,...该专利属于思瑞浦微电子科技(上海)有限责任公司所有,仅供学习研究参考,未经过思瑞浦微电子科技(上海)有限责任公司授权不得商用。
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本发明揭示了一种高精度电容测量电路及测量方法,待测电容的第一端和第二端分别与第一端口和第二端口相连,所述测量电路包括电阻及V/I源,所述电阻的第一端和第二端分别与第一端口和第二端口相连,所述V/I源的正极和负极分别与第一端口和第二端口相连,...