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本发明一种MCU芯片电气参数自动化测试系统和方法。该系统包括上位机、测试仪器、通道选择模块，上位机通过第一通信协议发送通道连接指令，使得通道选择模块根据测试项目ID将对应的测试仪器与被测芯片的引脚连接起来；上位机通过第二通信协议发送代码选择...
该专利属于深圳市爱普特微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市爱普特微电子有限公司授权不得商用。

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