【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片测试，更特别地，涉及一种mcu芯片电气参数自动化测试方法及系统。
技术介绍
1、电气参数特性是影响mcu芯片性能的重要因素。mcu的电气参数特性主要包括振荡器特性、上电复位特性、低压检测特性、功耗特性、外部中断输入特性、i/o端口特性、存储器特性、adc/dac特性、运算放大器特性、比较器特性、固定参考电压特性等。对这些电气参数特性进行测试时，需要用到电气参数测试仪器，比如电源、示波器、万用表、波形发生器等。测试时，首先需要将测试代码烧录到被测芯片中，再用测试仪器按照特定的方式与芯片连接，然后调试测试仪器，获取测试数据；接着，更换测试代码、连接方式，开始下一个测试项。由于电气参数测试项多，且每个测试项包含多个测试子项，所以，需要频繁的更换测试代码和连接方式，整个测试过程需要消耗大量的人力与时间。
2、为了提高测试效率，现有技术中通常使用自动化测试方法来进行测试。大部分测试设备可以通过usb等接口连接电脑，然后通过visa接口协议来实现电脑对测试设备的操控；通过电脑控制测试仪器，使测试仪器按预定的方式采集被测芯片的电气参数特性。虽然这种自动化测试方法将手动控制设备（开关电源，测量电压电流等操作）变成通过电脑控制设备，但是，当需要更换电气参数测试项时，仍需要对被测芯片烧录新的测试程序并更换新的连接方式，这两个操作一般采用手动的形式实现，耗时耗力。
3、基于此，需要一种新的解决方案。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于针对现有mcu电气参数特
2、根据本专利技术的一方面，提供一种mcu芯片电气参数自动化测试系统，用于对被测芯片进行测试，包括上位机、测试仪器、通道选择模块，其中，所述上位机连接于所述测试仪器、所述通道选择模块和所述被测芯片，所述测试仪器连接于所述通道选择模块，所述通道选择模块连接于所述被测芯片，所述上位机用于通过第一通信协议发送通道连接指令至所述通道选择模块，所述通道连接指令包括测试项目id；所述通道选择模块存储有所有测试项目的连线方式，用于解析所述通道连接指令，根据解析后的所述测试项目id将测试仪器的对应测试接口与所述被测芯片的对应引脚连接；在连接成功后，所述上位机还用于通过第二通信协议发送测试代码选择指令至所述被测芯片，所述测试代码选择指令包括测试项目id；所述被测芯片上烧录有所有测试项目的测试代码，用于解析所述测试代码选择指令，根据解析后的测试项目id准备对应的测试代码；所述上位机还用于发送控制指令至测试仪器；所述测试仪器根据所述控制指令，对被测芯片进行对应的测试，并将测试结果返回至所述上位机。
3、在本专利技术提供的mcu芯片电气参数自动化测试系统中，所述被测芯片通过测试座固定在测试子板上，所述测试子板通过排针插入测试母板插座，所述测试母板包括多个测试仪器接口，所述测试仪器的多个测试接口通过连接线连接到所述多个测试仪器接口。
4、在本专利技术提供的mcu芯片电气参数自动化测试系统中，所述通道选择模块包括焊接在所述测试母板上的矩阵开关控制芯片和矩阵开关，所述上位机连接于所述矩阵开关控制芯片，所述矩阵开关控制芯片连接所述矩阵开关，所述矩阵开关连接所述测试仪器和所述被测芯片，所述矩阵开关包括多个多通道模拟开关芯片，所述矩阵开关控制芯片通过spi菊花链通信形式控制所述多个多通道模拟开关芯片的开关状态。
5、在本专利技术提供的mcu芯片电气参数自动化测试系统中，所述矩阵开关控制芯片的片选信号引脚连接到每个多通道模拟开关芯片的片选信号引脚，所述矩阵开关控制芯片的时钟信号引脚连接到每个多通道模拟开关芯片的时钟信号引脚，所述矩阵开关控制芯片的数据输出引脚连接到第一个多通道模拟开关芯片的数据输入引脚，第i个多通道模拟开关芯片的数据输出引脚连接到第i+1个多通道模拟开关芯片的数据输入引脚，其中，i为大于等于1小于等于n-1的正整数，n为多通道模拟开关芯片的个数。
6、在本专利技术提供的mcu芯片电气参数自动化测试系统中，每个多通道模拟开关芯片包括m个输入通道和n个输出通道，所述测试母板包括j个测试仪器接口，被测芯片包括k个测试引脚，m个输入通道用于连接测试仪器接口，n个输出通道用于连接被测芯片的测试引脚，n=(k/n)*(j/m)。
7、根据本专利技术的另一方面，还提供一种mcu芯片电气参数自动化测试方法，包括：
8、步骤s1、上位机通过第一通信协议发送通道连接指令至通道选择模块，所述通道连接指令包括测试项目id；
9、步骤s2、所述通道选择模块解析所述通道连接指令，根据解析后的所述测试项目id将对应的测试仪器与被测芯片连接；
10、步骤s3、所述上位机通过第二通信协议发送测试代码选择指令至所述被测芯片，所述测试代码选择指令包括测试项目id；
11、步骤s4、所述被测芯片解析所述测试代码选择指令，根据解析后的测试项目id准备对应的测试代码；
12、步骤s5、所述上位机发送控制指令至测试仪器，所示测试仪器根据控制指令对被测芯片实施激励并对来自被测芯片的反馈进行测量，并将测试结果返回至所述上位机；
13、步骤s6、所述上位机保存测试数据并判断测试是否成功。
14、在本专利技术提供的mcu芯片电气参数自动化测试方法中，所述通道选择模块包括矩阵开关控制芯片和矩阵开关，所述矩阵开关包括多个多通道模拟开关芯片，所述矩阵开关控制芯片通过spi菊花链通信形式控制所述多个多通道模拟开关芯片的开关状态；所述步骤s2包括：
15、步骤s21、所述矩阵开关控制芯片解析所述通道连接指令，得到所述测试项目id；
16、步骤s22、根据所述测试项目id发送控制信号至所述多个多通道模拟开关芯片；
17、步骤s23、所述多个多通道模拟开关芯片根据所述控制信号导通对应的测试仪器和被测芯片引脚。
18、在本专利技术提供的mcu芯片电气参数自动化测试方法中，还包括：在所述步骤s4中所述被测芯片未能成功准备对应的测试代码，或在所述步骤s6中所述上位机判断测试未成功，则中止运行并由所述上位机输出运行日志。
19、实施本专利技术的mcu芯片电气参数自动化测试方法及系统，具有以下有益效果：本专利技术提供的mcu芯片电气参数自动化测试系统，上位机通过第一通信协议发送通道连接指令，使得通道选择模块根据测试项目id将对应的测试仪器与被测芯片的引脚连接起来；然后，上位机通过第二通信协议发送代码选择指令，使得被测芯片根据测试项目id准备好对应的测试代码；最后，通过上位机控制测试仪器执行被测芯片准备好的测试代码进行相关测试；由此，上位机与通道选择模块之间通过第一通信协议进行通信，上位机与被测芯片通过第二通信协议进行通信，根据测试项目id，对应的测试仪器自动地与被测芯片连接，被测本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种MCU芯片电气参数自动化测试系统，用于对被测芯片进行测试，其特征在于，包括上位机、测试仪器、通道选择模块，其中，所述上位机连接于所述测试仪器、所述通道选择模块和所述被测芯片，所述测试仪器连接于所述通道选择模块，所述通道选择模块连接于所述被测芯片，所述上位机用于通过第一通信协议发送通道连接指令至所述通道选择模块，所述通道连接指令包括测试项目ID；所述通道选择模块存储有所有测试项目的连线方式，用于解析所述通道连接指令，根据解析后的所述测试项目ID将测试仪器的对应测试接口与所述被测芯片的对应引脚连接；在连接成功后，所述上位机还用于通过第二通信协议发送测试代码选择指令至所述被测芯片，所述测试代码选择指令包括测试项目ID；所述被测芯片上烧录有所有测试项目的测试代码，用于解析所述测试代码选择指令，根据解析后的测试项目ID准备对应的测试代码；所述上位机还用于发送控制指令至测试仪器；所述测试仪器根据所述控制指令，对被测芯片进行对应的测试，并将测试结果返回至所述上位机。
2.根据权利要求1所述的MCU芯片电气参数自动化测试系统，其特征在于，所述被测芯片通过测试座固定于测试子板上
3.根据权利要求2所述的MCU芯片电气参数自动化测试系统，其特征在于，所述通道选择模块包括焊接在所述测试母板上的矩阵开关控制芯片和矩阵开关，所述上位机连接于所述矩阵开关控制芯片，所述矩阵开关控制芯片连接所述矩阵开关，所述矩阵开关连接所述测试仪器和所述被测芯片，所述矩阵开关包括多个多通道模拟开关芯片，所述矩阵开关控制芯片通过SPI菊花链通信形式控制所述多个多通道模拟开关芯片的开关状态。
4.根据权利要求3所述的MCU芯片电气参数自动化测试系统，其特征在于，所述矩阵开关控制芯片的片选信号引脚连接到每个多通道模拟开关芯片的片选信号引脚，所述矩阵开关控制芯片的时钟信号引脚连接到每个多通道模拟开关芯片的时钟信号引脚，所述矩阵开关控制芯片的数据输出引脚连接到第一个多通道模拟开关芯片的数据输入引脚，第i个多通道模拟开关芯片的数据输出引脚连接到第i+1个多通道模拟开关芯片的数据输入引脚，其中，i为大于等于1小于等于N-1的正整数，N为多通道模拟开关芯片的个数。
5.根据权利要求4所述的MCU芯片电气参数自动化测试系统，其特征在于，每个多通道模拟开关芯片包括m个输入通道和n个输出通道，所述测试母板包括j个测试仪器接口，被测芯片包括k个测试引脚，m个输入通道用于连接测试仪器接口，n个输出通道用于连接被测芯片的测试引脚，N=(k/n)*(j/m)。
6.一种MCU芯片电气参数自动化测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
7.如权利要求6所述的MCU芯片电气参数自动化测试方法，其特征在于，所述通道选择模块包括矩阵开关控制芯片和矩阵开关，所述矩阵开关包括多个多通道模拟开关芯片，所述矩阵开关控制芯片通过SPI菊花链通信形式控制所述多个多通道模拟开关芯片的开关状态；所述步骤S2包括：
8.如权利要求6所述的MCU芯片电气参数自动化测试方法，其特征在于，还包括：如果在所述步骤S4中所述被测芯片未能成功准备对应的测试代码，或在所述步骤S6中所述上位机判断测试未成功，则中止运行并由所述上位机输出运行日志。
...【技术特征摘要】
1.一种mcu芯片电气参数自动化测试系统，用于对被测芯片进行测试，其特征在于，包括上位机、测试仪器、通道选择模块，其中，所述上位机连接于所述测试仪器、所述通道选择模块和所述被测芯片，所述测试仪器连接于所述通道选择模块，所述通道选择模块连接于所述被测芯片，所述上位机用于通过第一通信协议发送通道连接指令至所述通道选择模块，所述通道连接指令包括测试项目id；所述通道选择模块存储有所有测试项目的连线方式，用于解析所述通道连接指令，根据解析后的所述测试项目id将测试仪器的对应测试接口与所述被测芯片的对应引脚连接；在连接成功后，所述上位机还用于通过第二通信协议发送测试代码选择指令至所述被测芯片，所述测试代码选择指令包括测试项目id；所述被测芯片上烧录有所有测试项目的测试代码，用于解析所述测试代码选择指令，根据解析后的测试项目id准备对应的测试代码；所述上位机还用于发送控制指令至测试仪器；所述测试仪器根据所述控制指令，对被测芯片进行对应的测试，并将测试结果返回至所述上位机。
2.根据权利要求1所述的mcu芯片电气参数自动化测试系统，其特征在于，所述被测芯片通过测试座固定于测试子板上，所述测试子板通过排针插入测试母板插座，所述测试母板包括多个测试仪器接口，所述测试仪器的多个测试接口通过连接线连接到所述多个测试仪器接口。
3.根据权利要求2所述的mcu芯片电气参数自动化测试系统，其特征在于，所述通道选择模块包括焊接在所述测试母板上的矩阵开关控制芯片和矩阵开关，所述上位机连接于所述矩阵开关控制芯片，所述矩阵开关控制芯片连接所述矩阵开关，所述矩阵开关连接所述测试仪器和所述被测芯片，所述矩阵开关包括多个多通道模拟开关芯片，所述矩...
【专利技术属性】
技术研发人员：魏柠柠，李炜，
申请(专利权)人：深圳市爱普特微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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