MCU芯片电气参数自动化测试系统及方法技术方案

本发明专利技术一种MCU芯片电气参数自动化测试系统和方法。该系统包括上位机、测试仪器、通道选择模块，上位机通过第一通信协议发送通道连接指令，使得通道选择模块根据测试项目ID将对应的测试仪器与被测芯片的引脚连接起来；上位机通过第二通信协议发送代码选择指令，使得被测芯片根据测试项目ID准备好对应的测试代码；上位机控制测试仪器执行对被测芯片进行相关测试。由此，根据测试项目ID，对应的测试仪器自动地与被测芯片连接，被测芯片自动选择对应的测试代码，在需要更换电气参数测试项时，无需人工连接对应的测试仪器与被测芯片，同时被测芯片不需要重新下载测试代码，提高了测试过程的自动化程度，进而提高了测试效率，降低了测试成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片测试，更特别地，涉及一种mcu芯片电气参数自动化测试方法及系统。

技术介绍

1、电气参数特性是影响mcu芯片性能的重要因素。mcu的电气参数特性主要包括振荡器特性、上电复位特性、低压检测特性、功耗特性、外部中断输入特性、i/o端口特性、存储器特性、adc/dac特性、运算放大器特性、比较器特性、固定参考电压特性等。对这些电气参数特性进行测试时，需要用到电气参数测试仪器，比如电源、示波器、万用表、波形发生器等。测试时，首先需要将测试代码烧录到被测芯片中，再用测试仪器按照特定的方式与芯片连接，然后调试测试仪器，获取测试数据；接着，更换测试代码、连接方式，开始下一个测试项。由于电气参数测试项多，且每个测试项包含多个测试子项，所以，需要频繁的更换测试代码和连接方式，整个测试过程需要消耗大量的人力与时间。

2、为了提高测试效率，现有技术中通常使用自动化测试方法来进行测试。大部分测试设备可以通过usb等接口连接电脑，然后通过visa接口协议来实现电脑对测试设备的操控；通过电脑控制测试仪器，使测试仪器按预定的方式采集被测芯片的电气参数特性。本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种MCU芯片电气参数自动化测试系统，用于对被测芯片进行测试，其特征在于，包括上位机、测试仪器、通道选择模块，其中，所述上位机连接于所述测试仪器、所述通道选择模块和所述被测芯片，所述测试仪器连接于所述通道选择模块，所述通道选择模块连接于所述被测芯片，所述上位机用于通过第一通信协议发送通道连接指令至所述通道选择模块，所述通道连接指令包括测试项目ID；所述通道选择模块存储有所有测试项目的连线方式，用于解析所述通道连接指令，根据解析后的所述测试项目ID将测试仪器的对应测试接口与所述被测芯片的对应引脚连接；在连接成功后，所述上位机还用于通过第二通信协议发送测试代码选择指令至所述被测芯片，所述...

【技术特征摘要】

1.一种mcu芯片电气参数自动化测试系统，用于对被测芯片进行测试，其特征在于，包括上位机、测试仪器、通道选择模块，其中，所述上位机连接于所述测试仪器、所述通道选择模块和所述被测芯片，所述测试仪器连接于所述通道选择模块，所述通道选择模块连接于所述被测芯片，所述上位机用于通过第一通信协议发送通道连接指令至所述通道选择模块，所述通道连接指令包括测试项目id；所述通道选择模块存储有所有测试项目的连线方式，用于解析所述通道连接指令，根据解析后的所述测试项目id将测试仪器的对应测试接口与所述被测芯片的对应引脚连接；在连接成功后，所述上位机还用于通过第二通信协议发送测试代码选择指令至所述被测芯片，所述测试代码选择指令包括测试项目id；所述被测芯片上烧录有所有测试项目的测试代码，用于解析所述测试代码选择指令，根据解析后的测试项目id准备对应的测试代码；所述上位机还用于发送控制指令至测试仪器；所述测试仪器根据所述控制指令，对被测芯片进行对应的测试，并将测试结果返回至所述上位机。

2.根据权利要求1所述的mcu芯片电气参数自动化测试系统，其特征在于，所述被测芯片通过测试座固定于测试子板上，所述测试子板通过排针插入测试母板插座，所述测试母板包括多个测试仪器接口，所述测试仪器的多个测试接口通过连接线连接到所述多个测试仪器接口。

3.根据权利要求2所述的mcu芯片电气参数自动化测试系统，其特征在于，所述通道选择模块包括焊接在所述测试母板上的矩阵开关控制芯片和矩阵开关，所述上位机连接于所述矩阵开关控制芯片，所述矩阵开关控制芯片连接所述矩阵开关，所述矩阵开关连接所述测试仪器和所述被测芯片，所述矩阵开关包括多个多通道模拟开关芯片，所述矩...

【专利技术属性】
技术研发人员：魏柠柠，李炜，
申请(专利权)人：深圳市爱普特微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：