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本发明涉及一种用于验证X射线荧光装置(9)的校准的测量对象(100)和方法，其中测量对象(100)具有主体(110)和布置在主体(110)上的至少一个标记(112)。标记由与主体(110)不同的材料形成，并且标记(112)配有至少一个另外的...该专利属于赫尔穆特费舍尔股份有限公司电子及测量技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过赫尔穆特费舍尔股份有限公司电子及测量技术研究所授权不得商用。