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本发明属于芯片测试治具结构设计技术领域，具体为一种便于离子消散除尘的控温芯片测试压头，包括压头、风孔，电极针、控温模块，其中压头用来接触芯片，压头底端有五个风孔，风孔上端有五根电极针，电极针安装于压头上端内壁，外接电源供电极针放电，另外内壁...
该专利属于沛顿科技（深圳）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过沛顿科技（深圳）有限公司授权不得商用。

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