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本发明公开了一种测量光学元件或成像系统像差的方法及装置，包括：步骤1，利用像差传感器测量光学元件或成像系统的实际微透镜子图像；步骤2，获取实际微透镜子图像相对于理想无像差情况下微透镜子图像在微透镜阵列的归一化坐标系uv的水平方向u、和竖直方...
该专利属于广东粤港澳大湾区协同创新研究院所有，仅供学习研究参考，未经过广东粤港澳大湾区协同创新研究院授权不得商用。

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