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本发明提供了一种斜路径电离层插值不确定度分析方法及系统，包括：获取不同插值方法在选定区域中所对应的插值结果；对所述插值方法结果分别通过时间、距离和高角度关系进行分析处理；根据所述分析处理的结果建立对应的数学函数表达式；在用户端根据所述数据函...
该专利属于上海交通大学所有，仅供学习研究参考，未经过上海交通大学授权不得商用。

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