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本发明公开了一种芯片检测方法及系统，涉及芯片检测技术领域，该方案的技术要点为：通过芯片的运行功率、表面温度和环境温度，计算获取芯片的热阻系数，通过芯片的历史热阻系数以及实时热阻系数，计算出芯片的热阻偏差系数；通过芯片的表面温度，导热硅脂的温...
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