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本发明公开了一种利用经典光实现海森堡极限精度的相位测量系统及方法，涉及精密测量技术领域。该相位测量系统包括N套单束光相位测量装置；其中单束光相位测量装置包括：激光器、光束位移器、挡光板、半波片、偏振分束器、样品、平面镜、消偏振分束器以及光探...
该专利属于北京理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京理工大学授权不得商用。

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