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本申请公开了一种量子芯片封装盒检测方法，属于量子比特芯片技术领域。该量子芯片封装盒检测方法通过向未连接键合线的第二焊接点施加第一检测信号，获得量子比特的第一拉比振荡曲线，以检测第二焊接点是否存在信号泄露状态。由于微弱的信号泄露都可能造成串扰...
该专利属于本源量子计算科技（合肥）股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过本源量子计算科技（合肥）股份有限公司授权不得商用。

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